NRI-100紅外光譜折射率計分(fēn)光計器(qì)儀器(qì)
NRI-100紅外光譜折射率計
NRI-200色散紅外光譜評估系統
OD-10高濃度測定用分(fēn)光光度計
ART-25光學元件測量裝置
台式真空紫外光度計
咨詢電話:0755-28286052
NRI-100紅外光譜折射率計分(fēn)光計器(qì)儀器(qì)
NRI-100紅外光譜折射率計分(fēn)光計器(qì)儀器(qì)
NRI-100紅外光譜折射率計
NRI-200色散紅外光譜評估系統
OD-10高濃度測定用分(fēn)光光度計
ART-25光學元件測量裝置
台式真空紫外光度計
NRI-100紅外光譜折射率計
NRI-200色散紅外光譜評估系統
OD-10高濃度測定用分(fēn)光光度計
ART-25光學元件測量裝置
台式真空紫外光度計
PRS-1受光元件響應速度測量裝置
是測量光傳感器(qì)等受光元件的響應速度的裝置。這是表示生(shēng)成的載波能(néng)多快(kuài)取出外部電路(lù)的值,以上(shàng)升時間/下(xià)降時間表示。
下(xià)降時間是脈沖輸入光的值10%→90%上(shàng)升時間,上(shàng)升時間是脈沖輸入光的值90%→10%下(xià)降時間。裝置主要由脈沖LD、樣品室、DC電源、示波器(qì)、控制PC構成,通過安裝在控制PC上(shàng)的軟件對各部分(fēn)進行控制及測定。
LBC-2激光誘導電流測量裝置
本裝置是各種太陽能(néng)電池和光電轉換元件(SiPD、CCD、CMOS)的光電流分(fēn)布測定裝置。
采用LBIC【Laser Beam Induced目前态】的測定方法。
搭載标準波長520nm激光器(qì),将樣品移動到XY,測量短路(lù)電流(Isc)。空間分(fēn)辨率約爲10達到m
最多50×可以測量50mm的樣品。
特别是由鈣钛礦太陽能(néng)電池等旋轉鍍膜法制作(zuò)的太陽電池,在樣品面的中心和端部存在均勻性不同的問題,适合評價這樣的樣品。另外,在SiPD、CCD、CMOS等領域,也(yě)适用于塗層材料等的均勻性評價。
BIP-FETS FET測量裝置
是評價場效應晶體管特性的裝置。從2個源極向樣品施加源極(VS)-漏極(VD)間電壓、源極(VS)-門(VG)電壓。
可以測量漏極電流,進行ID–VSD特性測量和ID-VSG特性測量。根據測量的數據,可以算(suàn)出移動度和阈值電壓。
另外,還計算(suàn)漏極電流的接通斷開比。
規格:
待測樣品 FET(接觸頭等)
施加電壓控制 源極-漏極間電壓、源極-栅極間電壓
施加電壓範圍 0~±200V
最小施加電壓 ±10µV
施加電壓間隔 0.01/0.02/0.05/0.1/0.2/0.5/1/2/5/10V
上(shàng)一(yī)篇:分(fēn)光計器(qì)KV-200極紫外光譜儀代理(lǐ)咨詢
下(xià)一(yī)篇:BIP-KV100電離測量裝置分(fēn)光計器(qì)BUNKOUKEIKI
返回列表>>