分(fēn)光計器(qì)PF-200光譜儀測量設備bunkoukeiki 光澤度儀

分(fēn)光計器(qì)PF-200光譜儀測量設備bunkoukeiki

分(fēn)光計器(qì)PF-200光譜儀測量設備bunkoukeiki

PF-200棱鏡預置光譜儀

可安裝在光譜儀（聚氯儀表）等入射部的棱鏡前置光譜儀

特點：

是在紫外線光譜學、SFG光譜學等的測量中，高效率、低(dī)迷光的前置光譜儀。

通過采用棱鏡代替濾鏡，一(yī)台可以使用多波長。

比起購買多張過濾器(qì)無法應對的紫外線領域的測定和過濾器(qì)，可以以更便宜的價格構建系統，這是有好(hǎo)(hǎo)處的。

由于棱鏡是可以交換的構造，所以可以配合紫外線、可見光等波長領域，進行高效率的選擇。還可以将棱鏡換成平面鏡，作(zuò)爲非分(fēn)散直通光學系統使用。

與各種測量用分(fēn)光鏡的連接（高度調整等）也(yě)可通過選項等進行對應。

規格：

光學布置 利特勒色散棱鏡光學系統

焦距 200ｍm

口徑比 F=6

分(fēn)散元件 三棱鏡

出射狹縫 寬度：0～4mm（雙開對稱連續可變・讀取最小刻度0.01mm）

高度光圈 連續可變V型光圈1～10mm

機械波長範圍 紫外線棱鏡：190～400nm

可見棱鏡：360～600nm

波長顯示

檢測線波長轉換驅動方式*不是直接波長顯示。

波長驅動 手柄手動驅動方式

M25-D雙單色儀表

小型、低(dī)迷光、高分(fēn)辨率的雙單色器(qì)。

于高精度光譜測量，如(rú)拉曼-光子(zǐ)發光/熒光測光、各種檢測器(qì)的光譜響應度測量等。可以選擇加分(fēn)散型和零分(fēn)散型。

由于光學配置采用了(le)本公司的變形工具，多重衍射産生(shēng)的迷光變得極小。

特點：

因爲是像差少的光學系統，所以可以在各波長上(shàng)獲得對稱性好(hǎo)(hǎo)的光譜。

不僅可以簡單地交換衍射光栅，而且交換再現性也(yě)很好(hǎo)(hǎo)±0.1mm以内）可以作(zuò)爲寬帶分(fēn)光器(qì)（單色器(qì)）使用200nm～25μｍ）

因爲可以清除氮，所以在紅外區域也(yě)可以使用。

采用有效面積大的衍射光栅，光學系統爲F=4.3，亮度明亮，像差少，因此在各波長上(shàng)出射光的對稱性優異，可獲得更高的分(fēn)辨率（0.03nm）。

由于機構、操作(zuò)簡單且堅固，耐沖擊・振動，而且幾乎沒有狹縫機構的後進，所以可以進行高精度的測量。

因爲入・出射狹縫被配置在相反一(yī)側，所以容易組合其他光學系統和特别附屬品，制作(zuò)符合使用目的的光譜系統。

通過安裝步進馬達波長驅動裝置（選配件），可通過外部脈沖信号或GP-IB進行控制。

規格：光學系統式 不對稱變形

焦距 250ｍm

口徑比 F=4.3

衍射光栅 刻線有效面積52×52mm

光學波長範圍 250～930nm

機械波長範圍 0～930nm

分(fēn)辨率 0.03nm（半幅）

波長掃描方式 正弦機構·波長線性掃描

波長驅動方式（可選） 步進馬達驅動

波長精度 ±0.1nm（從順方向設置）

波長顯示 計數器(qì)顯示最小1nm，最小刻度0.05nm

波長再現性 ±0.05nm

迷光 1×10-9以下(xià)（λ0=632.8nm時λ0±在5nm處）

出射狹縫 寬度：0～4mm（雙開對稱連續可變・讀取最小刻度0.01mm）

過濾器(qì) 手動滑動方式（最多可安裝6種）*紫外線、紅外線可選擇