MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分(fēn)光計器(qì)用途 單色儀

MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分(fēn)光計器(qì)用途

MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分(fēn)光計器(qì)用途

MK-300成像光譜儀

采用新(xīn)設計光學系統的正式聚氯乙烯。

CCD檢測受光面全域空間分(fēn)辨率優異。使用支管光纖等進行多點同時光譜測量，以及通過與顯微鏡連接進行光譜測量等。

衍射光栅最多可以搭載3張，搭載了(le)電氣控制器(qì)，可以用USB電纜連接PC，用附帶的專用軟件進行波長驅動和衍射光栅切換。

特點：

将散光減少到極限，大幅改善波長兩端産生(shēng)的分(fēn)辨率降低(dī)

最多可以安裝3個衍射光栅

多點同時光譜測量

觀測圖像的光譜測量

檢測器(qì)的切換類型也(yě)有陣容。

規格：

反線型方差 2.58nm/mm

光學系統 像差校(xiào)正型特殊光學系統

亮度 F=4.4

波長分(fēn)辨率 半幅0.2nm（3pixels以内）

迷光 5×10-3以下(xià)

波長準确度 ±0.2nm（3pixels以内）

波長再現性 ±0.2nm（3pixels以内）

衍射光栅切換再現性 ±0.2nm（3pixels以内）

光學波長範圍 200～1000nm

波長移動方式 正弦機構、波長線性移動

波長驅動方式 步進馬達驅動（PC・專用軟件控制）

衍射光栅 時刻線有效50×50mm

衍射光栅切換方式 步進馬達驅動（最多可搭載3張）

入射狹縫 寬度：0.01～4mm（雙開對稱連續可變・讀取最小刻度0.01mm）

手動快(kuài)門（可選擇自動快(kuài)門）

軟件 衍射光栅切換·波長移動（USB連接）

＊CCD檢測器(qì)受光尺寸26.6mm（1024×256pixels 26µm/pixels）的情況

EMDP-100光譜系統

這是一(yī)種通過Retroller色散棱鏡和E殼衍射光栅的交叉分(fēn)散雙光譜配置，能(néng)夠以高分(fēn)辨率同時測量廣波長範圍的系統。搭載ANDOR制ICCD檢測器(qì)，可以使用分(fēn)光儀表專用軟件Blux進行控制。

通過結合各種測量用光學系統，可以對應等離子(zǐ)體光譜、PL和LIBS等所有測量。

特點:

一(yī)台E殼光譜系統實現了(le)波長範圍200～900nm的測量。

通過選擇Retroller色散棱鏡，可以從P1（200～270nm）、P2（270～410nm）、P3（410～900nm）3種測量波長範圍中選擇。

測量分(fēn)辨率在整個區域8500（λ/△λ）達到以上(shàng)。

在專用軟件Blux中，可以進行從ICCD檢測器(qì)測量的數據讀取到光譜顯示的數據處理(lǐ)（波長、順序連接、等間隔校(xiào)正等）。

規格:

光學布置 交叉色散雙光譜儀

測量波長範圍【3波長範圍】 200～900nm【200～270nm（P1）・270～410nm（P2）・410～900nm（P3）】

測量分(fēn)辨率 8500以上(shàng)（狹縫寬度50μｍ）

半光譜寬度 0.02～0.1nm（200～900nm）

焦距 波長色散用330mm階數分(fēn)離用200mm

開口比 F=10

波長色散 埃殼衍射光栅

次方差 利特勒分(fēn)散棱鏡

入射端口 帶XY調整功能(néng)的光纖支架

ICCD元件數 W2048×H512 pixel（有效1800×512pixel)

ICCD元件尺寸 13.5×13.5μm

ICCD區域大小 W27.648mm×H6.912mm（有效W24.975mm×H6.912mm）

MK-300成像光譜儀

EMDP-100埃殼光譜系統

CLP-400透鏡光譜儀

CLP-50顯微鏡連接用成像光譜儀

CLP-105 UV紫外線成像光譜儀

MCC-135多波長同時測量相機

重氫光源30W

鹵素燈電源

Xseries氙燈光源（通常）

XERseries氙燈光源（反射器(qì)）

Nseries陶瓷加熱器(qì)光源（紅外光源）