榮進化(huà)學EISHIN滲透試片ASME型

榮進化(huà)學EISHIN滲透試片ASME型

榮進化(huà)學EISHIN滲透試片ASME型

滲透試片JIS1型,ISO1型,JIS2型,ISO2型,JIS3型,ASME鋁試件

滲透測試面闆TAM型；磁粉探傷用标準試片JIS Z 2320-1,JIS A型,JIS C型

超聲波探傷用标準試件JIS Z 2345-1,JIS Z 2345-4,G型,N1型,A1型,A2型,A3型

Hoffman TAM 面闆是一(yī)種滲透測試面闆，用于 ASTM E 1417 定義的系統檢查。它已獲得普惠公司（TAM146040）和勞斯萊斯公司（RRP-58003）的認可，并因其高質量和可靠性而被世界各地的航空相關公司所使用。您可以選擇兩種類型：P&W TAM 146040-1 Polish（具有鏡面表面）和 P&W TAM 146040-2 Grit（具有噴砂表面）。标配 5 種說明圖案中每一(yī)種的單獨照片、帶有整個面闆照片的測試報告（實際尺寸照片）以及帶有特殊泡沫的透明盒。

TAM面闆是根據 ASTM E 1417标準使用的特定測試面闆。ASTM E 1417是 ASTM International（美國測試與材料協會）發布的名爲“液體滲透測試标準技術"的标準。本标準提供了(le)使用液體滲透檢測方法檢查材料的指南(nán)。

TAM代表“測試附件材料"，TAM面闆通常用于評估液體滲透劑檢測表面缺陷和異常區域的靈敏度和性能(néng)。這些(xiē)面闆有助于評估和鑒定滲透性材料。

JIS A型、C型标準試件是評價磁粉探傷性能(néng)和檢測金(jīn)屬零件和結構表面微小缺陷和裂紋的工具，是提高檢測結果準确性的技術。

通過使用試件，可以客觀地評價磁粉探傷的靈敏度和準确性。還可以研究影響磁粉檢測性能(néng)的因素。例如(rú)，對所使用的裝置的性能(néng)、磁粉、試驗液體、磁場的強度和方向、試驗操作(zuò)的充分(fēn)性等進行評價。

A型标準樣本用于可靠地指示特定缺陷的方向。如(rú)果缺陷在特定方向，則磁性顆粒的圖案将是特定圖案。通過清晰地顯示該圖案，可以保持探傷的準确性。在測試片中，調整磁化(huà)方法、磁化(huà)電流的值、磁性粒子(zǐ)的施加方法、測試液體中磁性粒子(zǐ)的濃度等。

該樣本由一(yī)塊純鐵制成，一(yī)側有凹槽。試件根據槽深、闆材材質、厚度等分(fēn)爲多種類型。

超聲波探傷用标準試件（JIS Z 2345-1～JIS Z 2345-4）概述：

測量反射體位置所需的時基和測量範圍的調整：用試樣調整超聲波探傷儀的時基，以精确測量反射體的位置。此外，通過适當調整測量範圍，優化(huà)探傷範圍。

反射器(qì)回波高度測量和缺陷靈敏度調整的必要調整：使用樣本，調整超聲波探傷儀設置以準确測量反射器(qì)的回波高度。另外，通過調整探傷靈敏度，可以更可靠地檢測微小的缺陷和異常。

探傷儀的特性和性能(néng)的檢驗以及探傷儀檢驗所需的性能(néng)特性的測量：使用試件，檢查超聲波探傷儀的特性和性能(néng)，以确認其功能(néng)是否正常。性能(néng)特征測量用于評估設備性能(néng)并根據需要進行調整或維修。