模拟靜電CDM試驗機HANWA阪和電子(zǐ)工業靜電測試儀

簡要描述：

模拟靜電CDM試驗機HANWA阪和電子(zǐ)工業
是與日本、海外的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）通過更換放(fàng)電電路(lù)的單元來支持國内外的規格測試。可以測量設備各端子(zǐ)容量。測量數據可以作(zuò)爲文本文件保存。

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模拟靜電CDM試驗機HANWA阪和電子(zǐ)工業

CDM試驗機型号：HED-C5000R

是與日本、海外的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）通過更換放(fàng)電電路(lù)的單元來支持國内外的規格測試。可以測量設備各端子(zǐ)容量。測量數據可以作(zuò)爲文本文件保存。

CDM試驗機型号：HED-CB5000

是一(yī)種模拟半導體器(qì)件上(shàng)插有印刷電路(lù)闆和模塊的靜電向接地等放(fàng)電現象的測試裝置。充放(fàng)電現象采用了(le)與面向半導體器(qì)件的CDM試驗相同的試驗。

全自動Wafer ESD測試儀型号：HED-W5300D

WaferESD測試儀HED-W5300D比以往的産品HED-W5100D進化(huà)得更厲害，可以自動控制搭載Wafer的階段。

即使是300mm級别的Wafer，隻要将Wafer放(fàng)在舞台上(shàng)，就(jiù)可以簡單地進行測定。

工作(zuò)效率肯定會大幅提高。

另外，和以前的産品一(yī)樣，可以對一(yī)般的包裝品進行試驗。

全自動Wafer ESD測試儀型号：HED-W5100D

從LED用到系統LSI的大口徑Wafer，可以應用HBM和MM。

施加ESD後，也(yě)可以通過V/I測量進行破壞判定。此外，還可與ESD測試等TLP測試裝置同時使用。對于ESD測試中出現問題的設備，有效地獲得保護電路(lù)的動作(zuò)參數。

是與日本、海外的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）

高性能(néng)Manual Wafer ESD測試儀型号：HED-W5000M

高性能(néng)Manual Wafer ESD測試儀

操作(zuò)機器(qì)人(rén)，可以簡單地對準2針之間的位置。

施加脈沖後，可以通過Vf/Im測量進行破壞判定。